X-4显微熔点仪

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X-4显微熔点仪

显微熔点仪可用载波片方法测定物质的熔点、形变、色变等;也可用药典规定的毛细管方法测其熔点,尤其对深色样品的熔点,并能自始自终观察到其熔化的全过程。



主要技术参数


  

X-4

显微镜 倍数

4倍物镜   10倍目镜

测量范围

室温∽320℃

测量精密度

室温∽200℃   误差±1℃

200℃∽320℃  误差±2℃

  

220V /50HZ/ 80W